BSRF-XAFS實驗系統(tǒng)位于12號廳,始建成于1990年,束線為4W1B,是由單周期WIGGLER 4W1引出的一條非聚焦單色光束線,主要光學元件是雙晶單色器。長期以來是國內唯一的一條XAFS專用光束線。2003年完成了系統(tǒng)更新改造。新XAFS專用束線1W1B由儲存環(huán)中7周期WIGGLER 1W1引出,為聚焦單色光束線。該束線光強比4W1B提高了一個量級以上,2008年實驗站建立了19元半導體陣列探測器,大大提高了痕量元素的測試能力。該束線一直穩(wěn)定運行至今。基于1W1B-XAFS線站,發(fā)展、建立、完善包括痕量、微區(qū)、表面、時間分辨、極端條件的XAFS實驗探測方法及分析手段,形成多方法高性能,穩(wěn)定運行的XAFS實驗平臺,為生命科學、環(huán)境科學、材料科學、物理、化學、化工等學科領域做出國際一流的工作提供實驗基礎。